Teseq NSG3060A Ledet Immunitet Generator
Brug vores chat til personlig support. Eller kontakt os via +45 31 33 18 19 eller salg@GOmeasure.dk
- Én kasse løsning system
- Spændingsstød op til 6,6 kV
- Ringbølge spænding op til 6,6 kV
- EFT/Burst op til 4,8 kV / 1 MHz
- PQT op til 16 A / 300 VAC & DC
- Nem at bruge 7“ farvetouchskærm
- Parametre kan ændres, mens testen kører
- Bred vifte af valgfrie testtilbehør
Opdag mulighederne
Mere information
Beskrivelse
NSG 4070D fra Teseq (Ametek CTS) er et kompakt og alsidigt EMC-immunitetstestsystem, der har en integreret signalgenerator, effektforstærkere og RF effektmåler. Det giver præcise og effektive elektromagnetiske følsomhedstest til en bred vifte af applikationer, herunder industri, bilindustri, medicinsk og forbrugerelektronik.
Hjertet i NSG 4070D er dens integrerede signalgenerator, der producerer sinusformede signaler fra 4 kHz til 1 GHz, med niveauer fra -60 dBm til +10 dBm. Den inkluderer en intern modulator til amplitudemodulation og pulsmodulation (AM og PM), begge justerbare inden for og uden for standard specifikationer.
NSG 4070D inkluderer et modulært effektforstærkersystem tilpasset specifikke testbehov:
- Test i frekvensområdet fra 150 kHz til 230 MHz (f.eks. IEC 61000-4-6 og ISO 7367-4 puls A) med effektmodeller på 50 W og 100 W.
- Test i frekvensområdet fra 4 kHz til 400 MHz (f.eks. ISO 11452-4, MIL 461- CS114) med 50 W og 100 W modeller.
Under testen kan det testede udstyr (EUT) overvåges på forskellige måder. Denne overvågning kan logges i resultatfilen og kan bruges til at afbryde testen. NSG 4070D tilbyder flere overvågningsmuligheder for:
- TTL Indgange/Udgange: For problemfri integration med eksterne overvågningsudstyr.
- Optisk Overvågning: Registrerer status for lysindikatoren for real-time feedback.
- Digital og Analog overvågning: for at registrere indgangsspændingen så høj som 24 V
NSG 4070 tilbyder forprogrammerede testrutiner for nem opsætning, der muliggør hurtig valg af standard tests. Brugere kan ændre og gemme brugerdefinerede rutiner, hvilket fjerner behovet for at oprette dem fra bunden.
NSG 4070's vektorprogrammeringsmode muliggør præcis kontrol af frekvens- og niveauparametre for hver testvektor, med justerbare start- og stopbetingelser for komplekse tests.
Specifikationer
Dokumenter
Datablad:
Muligheder
Video
NSG 4070D fra Teseq (Ametek CTS) er et kompakt og alsidigt EMC-immunitetstestsystem, der har en integreret signalgenerator, effektforstærkere og RF effektmåler. Det giver præcise og effektive elektromagnetiske følsomhedstest til en bred vifte af applikationer, herunder industri, bilindustri, medicinsk og forbrugerelektronik.
Hjertet i NSG 4070D er dens integrerede signalgenerator, der producerer sinusformede signaler fra 4 kHz til 1 GHz, med niveauer fra -60 dBm til +10 dBm. Den inkluderer en intern modulator til amplitudemodulation og pulsmodulation (AM og PM), begge justerbare inden for og uden for standard specifikationer.
NSG 4070D inkluderer et modulært effektforstærkersystem tilpasset specifikke testbehov:
- Test i frekvensområdet fra 150 kHz til 230 MHz (f.eks. IEC 61000-4-6 og ISO 7367-4 puls A) med effektmodeller på 50 W og 100 W.
- Test i frekvensområdet fra 4 kHz til 400 MHz (f.eks. ISO 11452-4, MIL 461- CS114) med 50 W og 100 W modeller.
Under testen kan det testede udstyr (EUT) overvåges på forskellige måder. Denne overvågning kan logges i resultatfilen og kan bruges til at afbryde testen. NSG 4070D tilbyder flere overvågningsmuligheder for:
- TTL Indgange/Udgange: For problemfri integration med eksterne overvågningsudstyr.
- Optisk Overvågning: Registrerer status for lysindikatoren for real-time feedback.
- Digital og Analog overvågning: for at registrere indgangsspændingen så høj som 24 V
NSG 4070 tilbyder forprogrammerede testrutiner for nem opsætning, der muliggør hurtig valg af standard tests. Brugere kan ændre og gemme brugerdefinerede rutiner, hvilket fjerner behovet for at oprette dem fra bunden.
NSG 4070's vektorprogrammeringsmode muliggør præcis kontrol af frekvens- og niveauparametre for hver testvektor, med justerbare start- og stopbetingelser for komplekse tests.