Hioki IM7581-02 Impedansanalysator
Brug vores chat til personlig support. Eller kontakt os via +45 31 33 18 19 eller salg@GOmeasure.dk
100 kHz til 300 MHz Målefrekvens Impedansanalysator med 0,5 ms Testhastighed
Opdag mulighederne
Mere information
Beskrivelse
Hioki LCR-målere og impedansanalysatorer spænder fra 1mHz til 3GHz enheder for at imødekomme en bred vifte af anvendelser inden for test af elektroniske komponenter. IM7581 tilbyder en maksimal måletid på 0,5 ms over et frekvensområde på 100 kHz til 300 MHz, hvilket gør den ideel til højvolumenproduktion af ferrit-chipperler og chipinduktorer.
Nøglefunktioner
• 100 kHz til 300 MHz testkildefrekvens
• Hurtigste testhastighed på 0,5 ms (analog måletid)
• ±0,72% rdg. grundlæggende nøjagtighed\n\n• Halvrack størrelse og håndholdt testhoved
• Omfattende kontaktkontrol (via DCR-test, Hi-Z afvisning eller bølgeformsbedømmelse)
• Udfør frekvenssvejs, niveau-svejs og tidsintervalmålinger i Analyzer-tilstand.
Grundlæggende specifikationer (Nøjagtighed garanteret i 1 år, Efterjusteringsnøjagtighed garanteret i 1 år)
| Målingsmetoder | LCR-tilstand, Analyzer-tilstand (svejs med målefrekvens og måleniveau), Kontinuerlig målingstilstand |
|---|---|
| Måleparametre | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| Målbar rækkevidde | 100 mΩ til 5 kΩ |
| Visningsområde | Z: 0,00 m til 9,99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0,00 m til 9,99999 GΩ)\nLs, Lp: ± (0,00000 n til 9,99999 GH) / Q: ± (0,00 til 9999,99)\nθ: ± (0,000° til 180,000°), Cs, Cp: ± (0,00000 p til 9,99999 GF)\nD: ± (0,00000 til 9,99999), Y: (0,000 n til 9,99999 GS)\nG, B: ± (0,000 n til 9,99999 GS), Δ%: ± (0,000 % til 999,999 %) |
| Grundlæggende nøjagtighed | Z: ±0,72 % rdg. θ: ±0,41° |
| Målefrekvens | 100,00 kHz til 300,00 MHz (5 cifre opløsning) |
| Målesignalniveau | Effekt: -40,0 dBm til +7,0 dBm\nSpænding: 4 mV til 1001 mVrms\nStrøm: 0,09 mA til 20,02 mArms\nBrugerdefineret effekt, spænding og strøm |
| Udgangsimpedans | 50 Ω |
| Display | 8,4 tommer farve TFT med berøringsskærm |
| Målehastigheder *1 | HURTIG: 0,5 ms / MED: 0,9 ms / LANGSAM: 2,1 ms / LANGSAM2: 3,7 ms\n*1 Analog måletid |
| Funktioner | Kontaktkontrol, Komparator, BIN-måling (klassificering), Panelindlæsning/-gemning, Hukommelsesfunktion, Ækvivalent kredsløbsanalyse, Korrelationskompensation |
| Grænseflader | Handler, USB, LAN, GP-IB (valgfri), RS-232C (valgfri) |
| Strømforsyning | 100 til 240 V AC, 50/60 Hz, 70 VA max. |
| Mål og vægt | Hovedenhed: 215 mm (8,46 tommer) B × 200 mm (7,87 tommer) H × 268 mm (10,55 tommer) D, 6,5 kg (229,3 oz)\nTesthoved: 61 mm (2,40 tommer) B × 55 mm (2,17 tommer) H × 24 mm (0,94 tommer) D, 175 g (6,2 oz) |
| Tilbehør | Testhoved ×1, Forbindelseskabel ×1, Strømkabel ×1, Brugsanvisning ×1, LCR-applikationsdisk (Brugermanual for kommunikation) ×1 |
Specifikationer
Dokumenter
Datablad:
Muligheder
Hioki IM7581 Impedance Analyzer
| IM7581-01 | Forbindelseskabel 1 m er samlet |
|---|---|
| IM7581-02 | Forbindelseskabel 2 m er samlet |
Video
Hioki LCR-målere og impedansanalysatorer spænder fra 1mHz til 3GHz enheder for at imødekomme en bred vifte af anvendelser inden for test af elektroniske komponenter. IM7581 tilbyder en maksimal måletid på 0,5 ms over et frekvensområde på 100 kHz til 300 MHz, hvilket gør den ideel til højvolumenproduktion af ferrit-chipperler og chipinduktorer.
Nøglefunktioner
• 100 kHz til 300 MHz testkildefrekvens
• Hurtigste testhastighed på 0,5 ms (analog måletid)
• ±0,72% rdg. grundlæggende nøjagtighed\n\n• Halvrack størrelse og håndholdt testhoved
• Omfattende kontaktkontrol (via DCR-test, Hi-Z afvisning eller bølgeformsbedømmelse)
• Udfør frekvenssvejs, niveau-svejs og tidsintervalmålinger i Analyzer-tilstand.
Grundlæggende specifikationer (Nøjagtighed garanteret i 1 år, Efterjusteringsnøjagtighed garanteret i 1 år)
| Målingsmetoder | LCR-tilstand, Analyzer-tilstand (svejs med målefrekvens og måleniveau), Kontinuerlig målingstilstand |
|---|---|
| Måleparametre | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
| Målbar rækkevidde | 100 mΩ til 5 kΩ |
| Visningsområde | Z: 0,00 m til 9,99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0,00 m til 9,99999 GΩ)\nLs, Lp: ± (0,00000 n til 9,99999 GH) / Q: ± (0,00 til 9999,99)\nθ: ± (0,000° til 180,000°), Cs, Cp: ± (0,00000 p til 9,99999 GF)\nD: ± (0,00000 til 9,99999), Y: (0,000 n til 9,99999 GS)\nG, B: ± (0,000 n til 9,99999 GS), Δ%: ± (0,000 % til 999,999 %) |
| Grundlæggende nøjagtighed | Z: ±0,72 % rdg. θ: ±0,41° |
| Målefrekvens | 100,00 kHz til 300,00 MHz (5 cifre opløsning) |
| Målesignalniveau | Effekt: -40,0 dBm til +7,0 dBm\nSpænding: 4 mV til 1001 mVrms\nStrøm: 0,09 mA til 20,02 mArms\nBrugerdefineret effekt, spænding og strøm |
| Udgangsimpedans | 50 Ω |
| Display | 8,4 tommer farve TFT med berøringsskærm |
| Målehastigheder *1 | HURTIG: 0,5 ms / MED: 0,9 ms / LANGSAM: 2,1 ms / LANGSAM2: 3,7 ms\n*1 Analog måletid |
| Funktioner | Kontaktkontrol, Komparator, BIN-måling (klassificering), Panelindlæsning/-gemning, Hukommelsesfunktion, Ækvivalent kredsløbsanalyse, Korrelationskompensation |
| Grænseflader | Handler, USB, LAN, GP-IB (valgfri), RS-232C (valgfri) |
| Strømforsyning | 100 til 240 V AC, 50/60 Hz, 70 VA max. |
| Mål og vægt | Hovedenhed: 215 mm (8,46 tommer) B × 200 mm (7,87 tommer) H × 268 mm (10,55 tommer) D, 6,5 kg (229,3 oz)\nTesthoved: 61 mm (2,40 tommer) B × 55 mm (2,17 tommer) H × 24 mm (0,94 tommer) D, 175 g (6,2 oz) |
| Tilbehør | Testhoved ×1, Forbindelseskabel ×1, Strømkabel ×1, Brugsanvisning ×1, LCR-applikationsdisk (Brugermanual for kommunikation) ×1 |
Datablad:
Hioki IM7581 Impedance Analyzer
| IM7581-01 | Forbindelseskabel 1 m er samlet |
|---|---|
| IM7581-02 | Forbindelseskabel 2 m er samlet |